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科威尔MX700S静态测试系统

科威尔MX700S静态测试系统

MX700S静态测试系统由高压供电单元、治具单元、测量单元、继电器切换单元、脉冲电流源以及配套测试仪器等组成,采用公司自主开发的系统测试软件,为功率器件静态特性参数提供一个稳定、精准的测试平台,适用于IGBT、SiC、二极管等功率器件的静态测试。

img1 产品介绍


MX700S静态测试系统由高压供电单元、治具单元、测量单元、继电器切换单元、脉冲电流源以及配套测试仪器等组成,采用公司自主开发的系统测试软件,为功率器件静态特性参数提供一个稳定、精准的测试平台,适用于IGBT、SiC、二极管等功率器件的静态测试。


img4 产品规格表


测试名称

测量范围及精度

分量分辨率

测试条件及精度

分辨率

cEs

0.1-10uA(精度±2%±5nA) 10-100uA(精度±1%±50nA)

0.1-100mA(精度±1%±10uA)

1nA(0.1-10uA)

1nA(10-100uA)

1uA(0.1-100mA)

Vc:50-3000V(精度:±1%±3V)

V:0-±30V

tp:10ms-1000ms

1V

BVcEs

50-3000V

(精度:±1%±3V)

1V

Ic:10uA-100mA

10-100uA(精度±2%±2.5uA)

0.1-100mA(精度±2%±10uA)

VGE0-±30V

tp:10ms-200ms

1uA(10-100uA)  100uA(0.1-100mA)

6E5

0-10uA

(精度±1%±0.5nA)

100pA

V₆ :0-±100V

精度:±1%±0.2V VcE:0V

tp:20ms-1000ms

0.1V

VGeth

0-20V

(精度±1%±1mV)

1mV

VGE=VcE

c:1uA-1A

精度:±1%

0.1mA/10mA/1A

tp:1ms-100ms

1uA

RNTC

0-10V

(精度±1%±1mV)

1mV

INTC:0.1mA-1A

精度:±1%

tp:1ms-100ms

0.1mA

VCEsa

0-20V

(精度±1%±1mV)

1mV

VG:0-30V(精度:±2%±0.2V)

Ic:0-2000A

0-200A(精度±2%±0.2A)

200-2000A(精度±1%±2A)

tp:0.25ms-10ms

0.1V

1A

V。

0-20V

(精度±1%±1mV)

1mV

VG:0-30V

精度:±2%±0.2V

c:0-2000A

0-200A(精度±2%±0.2A)

200-2000A(精度±1%±2A)

tp:0.25ms-10ms

0.1V

1A

V;

0-20V

(精度±1%±1mV)

1mV

VGE:-30-0V

精度:±2%±0.2V

c:0-2000A

0-200A(精度±2%±0.2A)

200-2000A(精度±1%±2A)

tp:0.25ms-10ms

0.1V

1A

Kelvin

0-20V

(精度±1%±1mV)

1mV

0.1mA-1A

0.1mA


img6 产品界面



img7 产品特点


最多24通道切换单元支持复杂拓扑测试、分流器采样测试; 

支持产线测试,高速测试;

支持JEP183A SiC MOSFET器件测试标准;

可通过扫码枪扫描码完成 PN 码录入,自动生成测试报告; 人机界面友好,操作简单便利。

img9

可以介绍下你们的产品么×