N8130系列超高采样率超级电容容量内阻测试仪

N8130超高采样率超级电容测试仪为NGI公司针对超级电容、电池研发和生产而自主设计开发的新一代专用测试仪器。采样速度高达1ms，充转放过程无缝切换，N8130完全满足超级电容、电池充电容量、放电容量、充电等效串联内阻、放电等效串联内阻、能量转换效率、循环寿命等电气参数进行高精度测试测量。N8130支持六步法，IEC62391，QC/T 741等全部主流测试标准，用户可根据需要灵活选。N8130上位机软件支持平台化测试应用，用户可根据测试工艺和测试流程自行定制测试文件，测试结果可方便存储和导出。导出格式可支持数据库、EXCEL、JPG文件。

产品特点

       ■  电流范围：0-50mA / 500mA / 2A / 10A

       ■  电压范围：0-6V

       ■  恒流充电、恒流放电、恒压充电、循环寿命、充电容量，放电容量、DCIR(直流等效内阻)等参数测试

       ■  采样&通讯传输间隔高达1ms，完全真实还原测试过程数据

       ■  充转放过程无缝切换，无过充过放

       ■  功能丰富的上位软件，支持生产分选功能

       ■  每通道对应状态指示灯，分选更方便

       ■  强大的数据存储与分析功能 

       ■  百兆以太网通讯

        ■  兼容A/h、W/h、F等多种容量测试方法

功能与优势

容量测量 

       N8130可测量超级电容容量参数，含充电容量和放电容量。测试方法为：对被测超级电容以恒定电流进行充（放）电，在充（放）电过程中记录时间和电压参数，通过计算充（放）电过程中电压对时间的斜率计算容量。用户可根据IEC等各种测量标准自行选择电压、时间参数进行计算。

       充电容量计算公式：

       放电容量计算公式：

       其中：Ur表示额定电压/U1表示充电容量计算起始电压 /U2表示充电容量计算截止电压U3表示放电容量计算起始电压 / U4表示放电容量计算截止电压I1表示充电电流 / I2表示放电电流

直流内阻(DCIR)测试 

      N8130具有丰富的直流内阻测量功能，支持业内多种主流DCIR测试方法：多脉冲法、单脉冲法、充转放法、六步测试法、IEC测试法，可满足绝大部分用户测试需求。NGI核心测试技术确保在各种测试方法中获取高精度内阻测量结果。 QC/T 741法直流等效内阻计算公式：

寿命测试 

      N8130可通过重复充放电循环测试，测量超级电容在充放电过程中表征寿命特征的各项物理参数并提取其衰减曲线。通过分析参数衰减曲线，用户可获取超级电容在不同应用环境下的预计寿命、充放电周期以及在不同阶段的性能指标。寿命测试结果可用于指导材料、工艺、存储等诸多环节的改善。