SDS5000L系列 高分辨率示波器

高分辨率，满足更高精度测试需求
12-bit 高分辨率ADC 采样，更好地呈现波形细节；
优秀的本底噪声，1GHz 全带宽下本底噪声低至140μV
直流增益精度±0.5%

多路信号时序分析，一次完成电源轨测量
现代电子系统中包含不同的芯片、模块等，不同电路模块的信号在初始化和工作时可能相互影响，通过上电时序测试，可确保各模块信号在正确的时间出现，避免信号冲突、干扰，保证系统正常运行。如在通信系统中，收发模块的上电时序不当，可能造成数据传输错误。随着技术的发展，电路的复杂度不断提高，对上电时序测试也提出了新的挑战。SDS5000L 可一次捕获所有相关信号的上电过程，节省测量时间，提高工作效率，减少因多次测量引入的误差，对有 8 个以上电源轨的复杂电路，可一次完成测量。

多路信号时序分析，一次完成电源轨测量
现代电子系统中包含不同的芯片、模块等，不同电路模块的信号在初始化和工作时可能相互影响，通过上电时序测试，可确保各模块信号在正确的时间出现，避免信号冲突、干扰，保证系统正常运行。如在通信系统中，收发模块的上电时序不当，可能造成数据传输错误。随着技术的发展，电路的复杂度不断提高，对上电时序测试也提出了新的挑战。SDS5000L 可一次捕获所有相关信号的上电过程，节省测量时间，提高工作效率，减少因多次测量引入的误差，对有 8 个以上电源轨的复杂电路，可一次完成测量。

完整的宽禁带半导体解决方案
SDS5000L 的上升时间达到了ps 级别，可以捕捉到碳化硅（SiC）、氮化镓（GaN）的快速变化的波形，分析开关过程中电压，电流的瞬态变化和开关特性。通过观察信号的形状、过冲、振铃等情况，分析信号的完整性，优化电路设计。

参数
模拟带宽：350 MHz, 500 MHz, 1 GHz
通道数：8 + EXT
最高实时采样率：5 GSa/s
垂直分辨率：12-bit
最大存储深度：2.5 Gpts/ch
最高波形捕获率：650,000 wfm/s
接口：
USB 3.0 Host, USB 2.0 Host, USB 3.0 Device, 10M/100M/1000M LAN, 外触发输入, 辅助输出 (TRIG OUT, PASS/FAIL), 10MHz In, 10MHz Out, HDMI 输出
测量：
超过50 种参数测量，并支持直方图和趋势图统计
数据分析和数据处理工具
搜索、导航、历史、模板测试、数字万用表、波特图、电源分析 (选配)、三相电分析、波形直方图、计数器、双脉冲自动测量
触发类型：
边沿、斜率、脉宽、窗口、欠幅、间隔、超时、码型、视频、前提边沿、第N边沿、延迟、建立/保持时间、串行触发
串行触发和解码
标配：I2C, SPI, UART, CAN, LIN
选配：CAN FD, FlexRay, I2S, MIL-STD-1553B, SENT, Manchester (仅解码), ARINC429
信号发生器（选配）：外置单通道USB 隔离信号发生器, 最高输出频率50 MHz, 采样率125MSa/s, 波形长度16 kpts
探头：500 MHz 无源探头, 每通道1 套